Электронные частей : SN54BCT8373AFK

Производитель : Texas Instruments

Упаковка :

Pins :

Описание : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES

Темп. диапазон : Мин °C | Макс °C

Datasheet : SN54BCT8373AFK PDF

• SN54BCT8373A
• SN54BCT8373AFK
• SN54BCT8373AJT
• SN54BCT8374A
• SN54BCT8374AFK
• SN54BCT8374AJT
• SN54BCT8374A_08