Электронные частей : SN74ABT8952DWE4

Производитель : Texas Instruments

Упаковка :

Pins :

Описание : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL REGISTERED TRANSCEIVERS

Темп. диапазон : Мин °C | Макс °C

Datasheet : SN74ABT8952DWE4 PDF

• SN74ABT8952
• SN74ABT8952DL
• SN74ABT8952DLG4
• SN74ABT8952DLR
• SN74ABT8952DLRG4
• SN74ABT8952DW
• SN74ABT8952DWE4
• SN74ABT8952DWG4
• SN74ABT8952DWR
• SN74ABT8952DWRE4
• SN74ABT8952DWRG4